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vol.118
2018년 01월호
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KIMS 소식

제3회 KIMS 전자현미경 워크샵 개최!

제3회 KIMS 전자현미경 워크샵에서 참석자들이 기념촬영을 하고 있는 모습

 재료연구소(소장직무대행 김용진, KIMS)는 지난 1월 23일(화)~24일(수) 재료연구소 연구1동 2층 세미나실에서 ‘제3회 KIMS 전자현미경 워크샵’을 개최했다.

 재료연구소 재료설계분석연구실이 주최하고 ㈜지올코리아, 옥스퍼드 인스트루먼트 나노 어날리시스(Oxford Instruments Nano-Analysis)가 주관한 이번 행사는 전자현미경의 활용도를 높이고 정밀분석 기술수준 향상을 위해 전자현미경 직접 사용자들 대상으로 전자현미경에 대한 이론과 최신 분석기법에 대한 정보를 공유하기 위한 목적으로 마련됐다. SEM/EBSD 활용분석 워크샵이 1월 23일(화)~24일(수), TEM/FIB 활용분석 워크샵이 1월 24일(수) 개최됐다.

 이번 행사에서 JEOL Korea의 한경석 책임이 ‘SEM 이론 및 Imaging기법’을, 옥스퍼드社의 제니 고울덴(Jenny Goulden)과 이건용 대리가 ‘EBSD, Symmetry Camera Symmetry Application’, ‘EDS의 정량과 Ultim Detector’, ‘EBSD application on SEM’을, JEOL Korea의 박중식 선임이 ‘TEM/STEM이론 및 분석 활용’을, 이명렬 차장이 ‘최신 TEM의 소개’를, 재료연구소 송경 선임연구원이 ‘TEM application’에 대해 발표했다.

제3회 KIMS 전자현미경 워크샵에서 참석자들이 발표를 경청하고 있는 모습

 재료연구소 김용진 소장직무대행은 “전자현미경 분야에 대한 저변 확대에 따라 정밀분석에 대한 수요 또한 증가하고 있는 추세”라며, “이번 워크샵이 참가자들로 하여금 전자현미경의 다양한 기능을 이해하고 활용 방향을 모색하는 기회가 되었기를 바란다.”고 말했다.